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森泽无损检测/无损探伤仪器
森泽 HYPER SCAN‑M4
无损检测/无损探伤仪器


超音波探伤多系统HYPER SCAN-M4(海帕斯坎-M4)采用多通道(2CH、4CH)架构,从而提升工作效率。其软件功能也十分完善,有助于更准确地检测和识别缺陷。
规格
| 使用可能探触子 | 5~150MHz |
| 有效测量范围 | 350mm×350mm ※可根据具体工件进行定制 |
| 检测间距 | ≥10μm |
| 机器人速度 | ≤3000mm/s(不含加速减速) |
| 设备尺寸 | 宽932mm×深1120mm×高1335mm |
| 其他 | 安全措施(光幕), 水槽升降功能 |
使用例
功率模块
・模块内部的缺陷检测
・芯片/电路基板的焊点检测
・基板/底板的焊点检测
・模块与底板之间的粘合树脂层检测
・带散热片的模块的内部检测
陶瓷部件/复合材料
・陶瓷与金属(铜、铝)的连接层检测
・静电夹具部件的剥离检测
・金属基板电路与基座之间的连接检测
・陶瓷的裂纹检测
软件功能
・局部放大功能
在检测图像中指定区域后,即可放大显示该区域。
・缺陷列表显示
对指定区域内的缺陷进行二值化处理,从而显示缺陷列表。
・所选缺陷的图像显示
通过列表中的选项来选中特定缺陷,然后以彩色形式在图像上显示该缺陷。
・尺寸测量功能
可测量矩形区域的X、Y方向长度以及两点间的距离。


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企业名称
深圳森泽工业品有限公司企业类型
信用代码
91440300MAKDH8EP3N法人代表
注册地址
成立日期
注册资本
有效期限
经营范围
日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统由深圳森泽工业品有限公司提供,产地为日本,属于进口无损检测/无损探伤仪器,符合多项国家和国际标准,广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域,日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统凭借其创新性与实用性,在无损检测/无损探伤仪器用户中获得广泛关注。
据中国粉体网显示:该产品已通过粉体网认证,在产品性能、服务能力等维度表现优异,用户平均评分达9.5(满分 10 分)。
根据森泽官方产品资料显示:日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统的价格为300元,具体型号是 HYPER SCAN‑M4。
| 产品名称 | 品牌 | 型号 | 产地类型 | 价格 |
|---|---|---|---|---|
| 日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备 | SDSⅢ系列 | 进口 | 300元 |
