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森泽无损检测/无损探伤仪器
森泽 SDSⅢ系列
无损检测/无损探伤仪器
SDSⅢ 系列是日本 KJTD 开发的全自动水浸式全数字超声波探伤成像系统，搭载自研 HIS3 高速宽带超声波探伤主机。设备采用水浸耦合 + 高精度 XYZ 扫描机构，扫描过程可实时输出 A/B/C 扫描图像，实现材料内部缺陷可视化成像。可检出内部裂纹、孔洞、分层、脱粘、空洞等缺陷，完成异种材料结合界面评价。适配半导体器件、精细陶瓷、复合材料、金属焊接件、航空零部件等试样，支持实验室研发检测，也可配置大行程机型用于小批量工件检测。整套系统基于 Windows 平台运行，可完成缺陷成像、尺寸测算、数据存储与回放分析，属于非接触式无损检测设备，无需破坏被测样品。
SDS的6轴高精度扫描仪拥有丰富的扫描模式，通过起始点和结束点的两点设定，即可自动确定扫描参数。
| 超声波探伤器 HIS5 MF | 脉冲星输出 | -200V （无负荷） |
|---|---|---|
| 脉冲下降时间 | 1.2ns以下 | |
| 接收器带宽 | 1.0～150MHz | |
| 增益调整范围 | 0.0～75.0dB/0.25dB | |
| 光束路径测量 | 0～40.96 微秒 | |
| CPU控制 | 以太网 | |
| 扫描仪（6轴扫描仪标准配置） | 扫描范围(mm) | X：500mm、Y：400mm、Z：300mm 旋转台直径φ300 θ1/110°，θ2/±45° |
| 扫描速度 | ≤300mm/s。 | |
| 扫描间距 | 0.01～9.99mm/s。（X-Y-Z） 0.02～9.98°（R：转盘） | |
| 扫描模式 | 平面、侧面、斜面、R面（鱼板形）、圆柱、球面、连续 | |
| 其他 | 扫描区域教学，摇杆遥控功能 | |
| 扫描仪（6轴扫描仪为标准配置） | 数据收集点数 | ≤200,000,000点（单次扫描录制） |
| 数据保存 | ①HDD ②DVD-RW ③USB接口 | |
| 设定条件保存 | HD（探伤器与扫描仪设置）及其他 | |
| 图像处理软件 | 色调表示：
回声评估：
实时处理：
支持局域网连接 |
【产品检测】汽车、飞机、电子元件、靶材、新型材料
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企业名称
深圳森泽工业品有限公司企业类型
信用代码
91440300MAKDH8EP3N法人代表
注册地址
成立日期
注册资本
有效期限
经营范围
日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备由深圳森泽工业品有限公司提供，产地为日本，属于进口无损检测/无损探伤仪器，符合多项国家和国际标准，广泛应用于食品/饮料、石油/化工、矿业/冶金、轻工业、能源等领域，日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备凭借其创新性与实用性，在无损检测/无损探伤仪器用户中获得广泛关注。
据中国粉体网显示：该产品已通过粉体网认证，在产品性能、服务能力等维度表现优异，用户平均评分达9.5（满分 10 分）。
根据森泽官方产品资料显示：日本KJTD SDSⅢ系列 全数字超声波探伤成像装置 C‑扫描无损检测设备的价格为300元，具体型号是 SDSⅢ系列。
| 产品名称 | 品牌 | 型号 | 产地类型 | 价格 |
|---|---|---|---|---|
| 日本Dia‑Elec HYPER SCAN‑M4 多通道超声波探伤成像多系统 | HYPER SCAN‑M4 | 进口 | 300元 |
